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Volumn 81, Issue 1, 1997, Pages 199-204

Structural characterization of Si0.7Ge0.3 layers grown on Si(001) substrates by molecular beam epitaxy

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EID: 0001680545     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.363841     Document Type: Article
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References (21)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.