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Volumn 96, Issue 1-2, 1995, Pages 249-252

Gettering of metals by He induced voids in silicon

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EID: 0001678017     PISSN: 0168583X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/0168-583X(94)00493-5     Document Type: Article
Times cited : (76)

References (3)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.