Surface electronic structure of clean and hydrogen-chemisorbe alloy surfaces

Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

Volumn 54, Issue 19, 1996, Pages 14102-14110

  Ku, Ja Hum ^a   Nemanich, R ^a  

^a NORTH CAROLINA STATE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001644233     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.54.14102     Document Type: Article

References (39)

1. F. J. Himpsel and F. E. Eastman, J. Vac. Sci. Technol. 16, 767 (1979).
2. A. L. Wachs, T. Miller, T. C. Hsieh, A. P. Shapiro and T. C. Chiang, Phys. Rev. B 32, 2326 (1985).
3. J. A. Appelbaum, G. A. Baraff, D. R. Hamann, H. D. Hagstrum and T. Sakurai, Surf. Sci. 70, 654 (1978).
4. J. A. Appelbaum, G. A. Baraff and D. R. Hamann, Phys. Rev. B 14, 588 (1976).
5. J. E. Rowe and H. Ibach, Phys. Rev. Lett. 32, 421 (1974).
6. L. Papagno, X. Y. Shen, J. Anderson, G. S. Spagnolo and G. J. Lapeyre, Phys. Rev. B 34, 7188 (1986).
7. Y. L. Chabal, Surf. Sci. 168, 594 (1986).
8. J. J. Boland, Phys. Rev. Lett. 65, 3325 (1990).
9. S. Ciraci, R. Butz, E. M. Oellig and H. Wagner, Phys. Rev. B 30, 711 (1984).
10. L. S. O. Johansson, R. I. G. Uhrberg, and G. V. Hansson, Surf. Sci. 189/190, 479 (1987).
11. E. Landemark, R. I. G. Uhrberg, P. Krüger and J. Pollmann, Surf. Sci. 236, L359 (1990).
12. E. Landemark, C. J. Karlsson, L. S. O. Johansson, and R. I. G. Uhrberg, Phys. Rev. B 49, 16t523 (1994).
13. J. N. Burghartz, J. H. Comfort, G. L. Patton, B. S. Meyerson, J. Y.-C. Sun, J. M. C. Stork, S. R. Mader, C. L. Stanes, G. J. Scilla and B. J. Ginsberg, IEEE Electron Device Lett. 11, 288 (1990).
14. G. L. Patton, J. H. Comfort, B. S. Meyerson, E. F. Crabbé, G. J. Scilla, E. D. Frésart, J. M. C. Stork, J. Y.-C. Sun, D. L. Harame and J. N. Burghartz, IEEE Electron Device Lett. 11, 171 (1990).
15. J. C. Sturm, E. J. Prinz and C. W. Magee, IEEE Electron Device Lett. 12, 303 (1991).
16. R. D. Thompson, K. N. Tu, J. Angillelo, S. Delage and S. S. Iyer, J. Electrochem. Soc. 135, 3161 (1988).
17. T. L. Lin, T. George, E. W. Jones, A. Ksendozov and M. L. Huberman, Appl. Phys. Lett. 60, 380 (1988).
18. R. People, IEEE J. Quantum Electron. QE-22, 1696 (1986).
19. Silicon Molecular Beam Epitaxy, edited by E. Kasper and J. C. Bean (CRC, Boca Raton, FL, 1988).
20. A. T. Fiory, J. C. Bean, R. Hull and S. Nakahara, Phys. Rev. B 31, 4063 (1985).
21. R. People, Phys. Rev. B 32, 1405 (1985).
22. G. V. Hansson and R. I. G. Uhrberg, Surf. Sci. Rep. 9, 197 (1988).
23. J. van der Weide and R. J. Nemanich, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1940 (1992).
24. J. van der Weide and R. J. Nemanich, Phys. Rev. B 49, 13t629 (1994).
25. R. People and J. C. Bean, Appl. Phys. Lett. 47, 322 (1985).
26. D. B. Aldrich, R. J. Nemanich and D. E. Sayers, Phys. Rev. B 50, 15t026 (1994).
27. J. Cho and R. J. Nemanich, Phys. Rev. B 46, 12t421 (1992).
28. J. E. Griffith, G. P. Kochanski, J. A. Kubby and P. E. Wierenga, J. Vac. Sci. Technol. A 7, 1914 (1989).
29. G. Ertl and J. Kuppers, Low Energy Electron and Surface Chemistry (VCH, Weinheim, 1985).
30. J. Ihm, D. H. Lee, J. D. Joannopoulos and A. N. Berker, J. Vac. Sci. Technol. B 1, 705 (1983).
31. L. S. O. Johansson, R. I. G. Uhrberg, P. Mårtensson and G. V. Hansson, Phys. Rev. B 42, 1305 (1990).
32. R. I. G. Uhrberg, G. V. Hansson, J. M. Nicholls and S. A. Flodström, Phys. Rev. B 24, 4684 (1981).
33. P. Koke, A. Goldmann, and W. Mönch, Surf. Sci. 152/153, 1001 (1985).
34. J. Pollmann, R. Kalla, P. Krüger, A. Mazur and G. Wolfgarten, Appl. Phys. A 41, 21 (1986).
35. J. Pollmann, P. Krüger and A. Mazur, J. Vac. Sci. Technol. B 5, 945 (1987).
36. A. Zangwill, Physics at Surfaces (Cambridge University Press, Cambridge, 1988), pp. 75-76.
37. L. Surnev and M. Tikhov, Surf. Sci. 138, 40 (1984).
38. K. Fujiwara, Phys. Rev. B 26, 2036 (1982).
39. T. P. Schneider, J. Cho, Y. L. Chen, D. M. Maher, and R. J. Nemanich, in Surface Chemical Cleaning and Passivation for Semiconductor Processing, edited by G. S. Higashi, E. A. Irene, and T. Ohmi, MRS Symposia Proceedings No. 315 (Materials Research Society, Pittsburgh, 1993), p. 197.