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Ion Etching in Metallography
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(1980)
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0004953881
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Akademie-Verlag, Berlin
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(1987)
Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung
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Bartsch, H.1
Woltersdorf, J.2
Gerstengarbe, H.-C.3
Werner, P.4
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5
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17644401534
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TEM-Präparation: Eine neue Methode zur Herstellung von Querschnittspräparaten spröder Materialien
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U. Salzberger, A. Strecker, J. Mayer, TEM-Präparation: Eine neue Methode zur Herstellung von Querschnittspräparaten spröder Materialien, Optik, Supplement 4 (1991) 10
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(1991)
Optik
, Issue.4 SUPPL.
, pp. 10
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Salzberger, U.1
Strecker, A.2
Mayer, J.3
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6
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0028442399
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Querschnittspräparation für die Untersuchung von dünnen Schichten, Grenzflächen, Pulvern und Fasern im Transmissionselektronenmikroskop
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H.-J. Klaar, C.-A. Hunag, Querschnittspräparation für die Untersuchung von dünnen Schichten, Grenzflächen, Pulvern und Fasern im Transmissionselektronenmikroskop; Prakt. Metallogr. 31 (1994) 290
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(1994)
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(1995)
Ausgewählte Beispiele für Eine TEM-Zielpräparation Inhomogener Werkstoffe, Fortschritte in der Metallographie
, pp. 105-108
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Mühle, U.1
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Oettel, H.5
Schmidt, S.6
Wiedemann, R.7
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Precision ion polishing system - A new instrument for TEM specimen preparation of materials
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paper presented Boston
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(1991)
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Chemically assisted ion beam etching - A new technique for TEM specimen preparation of materials
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paper presented San Fransisco
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R. Alani, J. S. Jones, P. R. Swann, Chemically assisted ion beam etching - a new technique for TEM specimen preparation of materials; paper presented at MRS, San Fransisco (1990)
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(1990)
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Alani, R.1
Jones, J.S.2
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