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Volumn 82, Issue 9, 1997, Pages 4338-4345

Detailed electrical characterization of DX centers in Se-doped AlxGa1-xAs

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EID: 0001627727     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.366242     Document Type: Article
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References (30)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.