Low-temperature scanning tunneling microscope-induced luminescence of an InGaN/GaN multiquantum well

Applied Physics Letters

Volumn 74, Issue 10, 1999, Pages 1457-1459

  Evoy, S ^a   Harnett, C K ^a   Craighead, H G ^a   Keller, S ^b   Mishra, U K ^b   DenBaars, S P ^b  

^a Cornell University   (United States)

^b University of California   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001619231     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.123580     Document Type: Article

References (16)

1. S. Nakamura, T. Mukai, and M. Senoh, Appl. Phys. Lett. 64, 1687 (1994).
2. S. Nakamura, M. Senoh, S.-I. Nagahama, N. Iwasa, T. Yamada, T. Matsushita, H. Kiyoku, and Y. Sugimoto, Appl. Phys. Lett. 68, 2105 (1996).
3. G. E. Bulman, K. Doverspike, S. T. Sheppard, T. W. Weeks, H. S. Kong, H. M. Dieringer, J. A. Edmond, J. D. Brown, J. T. Swindell, and J. F. Schetzina, Electron. Lett. 33, 1556 (1997).
4. M. P. Mack, A. Abare, M. Aizcorbe, P. Kozodoy, S. Keller, U. K. Mishra, L. Coldren, and S. DenBaars, MRS Internet J. Nitride Semicond. Res. 2, 41 (1997).
5. Y. Narukawa, Y. Kawakami, M. Funato, Sz. Fujita, Sg. Fujita, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 70, 981 (1997).
6. S. Chichibu, K. Wada, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 71, 2346 (1997); S. Chichibu, T. Sota, K. Wada, and S. Nakamura, J. Vac. Sci. Technol. B 16, 2204 (1998).
7. S. Chichibu, K. Wada, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 71, 2346 (1997); S. Chichibu, T. Sota, K. Wada, and S. Nakamura, J. Vac. Sci. Technol. B 16, 2204 (1998).
8. D. L. Abraham, A. Veider, Ch. Schonenberger, H. P. Meier, D. J. Arent, and S. F. Alvarado, Appl. Phys. Lett. 56, 1564 (1990).
9. B. Garni, J. Ma, N. Perkins, J. Liu, T. F. Kuech, and M. G. Lagally, Appl. Phys. Lett. 68, 1380 (1996).
10. S. Evoy, C. K. Harnett, H. G. Craighead, T. J. Eustis, W. A. Davis, M. J. Murphy, W. J. Schaff, and L. F. Eastman, J. Vac. Sci. Technol. B 16, 1943 (1998).
11. S. Evoy, C. K. Harnett, S. Keller, U. K. Mishra, S. P. DenBaars, and H. G. Craighead, J. Vac. Sci. Technol. B (in press).
12. Y.-H. Cho, J. J. Song, S. Keller, U. K. Mishra, and S. P. DenBaars, Appl. Phys. Lett. 73, 3181 (1998).
13. J. Ma, B. Garni, N. Perkins, W. L. O'Brien, T. F. Kuech, and M. G. Lagally, Appl. Phys. Lett. 69, 3351 (1996).
14. E. E. Reuter, S. Q. Gu, P. W. Bohn, J. F. Dorsten, G. C. Abeln, L. W. Lyding, and S. G. Bishop, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 380, 119 (1995).
15. P. A. Crowell, D. K. Young, S. Keller, E. L. Hu, and D. D. Awschalom, Appl. Phys. Lett. 72, 927 (1998).
16. A. Vertikov, M. Kuball, A. V. Nurmikko, Y. Chen, and S. Y. Wang, Appl. Phys. Lett. 72, 2645 (1998).