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Volumn 148, Issue 5, 2001, Pages

Concept of Mismatch and Relaxation Explains DC and AC Conductivities of Fragile Glass-Forming Ionic Melts

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EID: 0001616202     PISSN: 00134651     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1149/1.1359193     Document Type: Article
Times cited : (35)

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    • A. Heuer, Private communication.
    • Heuer, A.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.