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Volumn 99, Issue 1-2, 1998, Pages 184-190

Preparation and characterization of RF-PECVD deposited films containing β-C3N4 microcrystallites

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Characterization; PECVD; C3N4

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EID: 0001597722     PISSN: 02578972     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0257-8972(97)00526-4     Document Type: Article
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References (27)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.