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Volumn 36, Issue 1-3, 1996, Pages 196-199

Influence of oxygen and carbon on the generation and annihilation of radiation defects in silicon

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Carbon; Oxygen; Silicon

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EID: 0001594732     PISSN: 09215107     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/0921-5107(95)01269-9     Document Type: Article
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References (12)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.