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Volumn 83, Issue 10, 1998, Pages 5154-5158

Structural characterization of thin film ferromagnetic tunnel junctions

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EID: 0001490551     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.367333     Document Type: Article
Times cited : (34)

References (18)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.