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Volumn 42, Issue 11, 1997, Pages 823-828

Microfabricated cantilever for AFM/FFM

Author keywords

Atomic force microscopy; Cantilever; Frictional force microscopy; Probe; Tip material; Torsional behavior

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EID: 0001412240     PISSN: 09151168     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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References (5)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.