Nanoneedle formation on silicon (111) surface using a scanning tunneling microscope tip

Journal of Applied Physics

Volumn 80, Issue 7, 1996, Pages 4182-4188

  Heike, Seiji ^a   Hashizume, Tomihiro ^a   Wada, Yasuo ^a  

^a HITACHI LTD   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001383089     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.363292     Document Type: Article

References (23)

1. D. M. Eigler, C. P. Lutz, and W. E Rudge, Nature 352, 600 (1991).
2. Y. Wada, T. Uda, M. Lutwyche, S. Kondo, and S. Heike, J. Appl. Phys. 74, 7321 (1993).
3. G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 49, 57 (1982).
4. S. Hosoki, S. Hosaka, and T. Hasegawa, Appl. Surf. Sci. 60, 643 (1991).
5. D. M. Eigler and E. K. Schweizer, Nature 344, 524 (1990).
6. M. F. Crommie, C. P. Lutz, and D. M. Eigler, Science 262, 218 (1993).
7. H. Uchida, D. Huang, J. Yoshinobu, and M. Aono, Surf. Sci. 287, 1056 (1993).
8. J. W. Lyding, T. C. Shen, J. S. Hubacek, J. R. Tucker, and G. C. Abeln, Appl. Phys. Lett. 64, 2010 (1994).
9. S. Kondo, S. Heike, M. Lutwyche, and Y. Wada, J. Appl. Phys. 78, 155 (1995).
10. Q. J. Gu, N. Liu, W. B. Zhao, Z. Q. Xue, and S. J. Pang, Appl. Phys. Lett. 66, 1747 (1995).
11. Y. Kuk and P. J. Silverman, Appl. Phys. Lett. 48, 1597 (1986); T. Sakurai, T. Hashizume, Y. Hasegawa, I. Kamiya, N. Sano, and K. Yokoyama, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 324 (1990).
12. Y. Kuk and P. J. Silverman, Appl. Phys. Lett. 48, 1597 (1986); T. Sakurai, T. Hashizume, Y. Hasegawa, I. Kamiya, N. Sano, and K. Yokoyama, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 324 (1990).
13. J. Garneas, F. Kragh, K. A. Mørch, and A. R. Thölén, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 441 (1990).
14. R. Möller, A. Esslinger, and M. Rauscher, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 434 (1990).
15. L. Montelius and J. O. Tegenfeldt, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 2222 (1994).
16. F. Atamny and A. Baiker, Surf. Sci. 323, L314 (1994).
17. S. Heike, T. Hashizume, and Y. Wada, Jpn. J. Appl. Phys. 34, L1061 (1995).
18. R. M. Ostrom, D. M. Tanenbaum, and A. Gallagher, Appl. Phys. Lett. 61, 925 (1992).
19. K. Kobayashi and M. Tsukada, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 170 (1990).
20. H. A. Mizes, S. Park, and W. A. Harrison, Phys. Rev. B 36, 4491 (1987).
21. A. Kobayashi, F. Gray, R. S. Williams, and M. Aono, Science 259, 1724 (1993).
22. H. Tokumoto, K. Miki, and Y. Morita, Ultramicroscopy 42-44, 816 (1992).
23. L. J. Whitman, J. A. Stroscio, R. A. Dragoset, and R. J. Celotta, Science 251, 1206 (1991).