Ultrafast broadband frequency-modulation reflectometer for density profile measurements in GAMMA 10

Review of Scientific Instruments

Volumn 68, Issue 1, 1997, Pages 443-445

  Tokuzawa, T ^a   Mase, A ^a   Oyama, N ^a   Itakura, A ^a   Tamano, T ^a  

^a UNIVERSITY OF TSUKUBA   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001367329     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1147601     Document Type: Article

References (13)

1. G. J. Kramer, A. C. Sips, and N. J. Lopes Cardoro, Plasma Phys. Control. Fusion 35, 1685 (1993).
2. K. W. Kim, E. J. Doyle, W. A. Peebles, A. Ejiri, N. C. Luhmann, Jr., and C. L. Rettig, Rev. Sci. Instrum. 66, 1229 (1995).
3. J. Sánchez, B. Branas, T. Estrada, E. de la Luna, and V. Zhuravlev, Rev. Sci. Instrum. 63, 4654 (1992).
4. G. R. Hanson, J. B. Wilgen, T. S. Bigelow, I. Collazo, A. C. England, M. Murakami, D. A. Ramussen, and J. R. Wilson, Rev. Sci. Instrum. 66, 863 (1995).
5. S. H. Heijnen, M. de Baar, A. J. H. Donné, M. J. van de Pol, C. A. J. Hugenholtz, and RTP team, Rev. Sci. Instrum. 66, 419 (1995).
6. C. W. Domier, N. C. Luhmann, Jr., A. Chou, W.-M. Zhang, and A. J. Romanowsky, Rev. Sci. Instrum. 66, 399 (1995).
7. T. Tamano, Phys. Plasmas 2, 2321 (1995).
8. T. Tokuzawa, A. Mase, N. Oyama, Y. Ito, A. Itakura, and T. Tamano, Jpn. J. Appl. Phys. 1 34, 76 (1995).
9. M. Nagatsu, T. Hayashi, Y. Matsuhisa, and T. Tsukishima, Jpn. J. Appl. Phys. 33, L45 (1994).
10. H. Bottollier-Curtet and G. Ichtchenko, Rev. Sci. Instrum. 58, 539 (1987).
11. E. J. Doyle, T. Lehecka, N. C. Luhmann, Jr., W. A. Peebles, and the DIII-D group, Rev. Sci. Instrum. 61, 2896 (1990).
12. T. Tokuzawa, A. Mase, A. Itakura, M. Inutake, K. Ishii, and T. Tamano, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 809 (1994).
13. A. Mase, T. Tokuzawa, N. Oyama, Y. Ito, A. Itakura, H. Hojo, M. Ichimura, M. Inutake, and T. Tamano, Rev. Sci. Instrum. 66, 821 (1995).