SCOPUS 정보 검색 플랫폼

Volumn 171, Issue 1-3, 1997, Pages 253-261

Probing radial and axial secular frequencies in a quadrupole ion trap

Author keywords

Fourier analysis; Mass spectrometry; Quadrupole ion trap; Secular frequencies; Simulation; Time of flight

Indexed keywords

EID: 0001343408 PISSN: 01681176 EISSN: None Source Type: Journal
DOI: 10.1016/s0168-1176(97)00120-1 Document Type: Article

Times cited : (8)

References (16)

1
- 0003827618
- CRC Press, Boca Raton, Florida
- R.E. March, J.F.J. Todd, Practical Aspects of Ion Trap Mass Spectrometry, vol. 1, CRC Press, Boca Raton, Florida, 1995.
- (1995) Practical Aspects of Ion Trap Mass Spectrometry , vol.1
- March, R.E.¹ Todd, J.F.J.²

2
- 4244131217
- R.G. Cooks, C.D. Cleven, L.A. Horn, M. Nappi, C. Weil, M.H. Soni, R.K. Julian Jr., Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 146/147 (1995) 147-163; V. Frankevich, M.H. Soni, M. Nappi, R.G. Cooks, R.E. Santini, J. Amy, Non-destructive Ion Trap Mass Spectrometer and Method, US Patent applied, 1996.
- (1995) Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. , vol.146-147 , pp. 147-163
- Cooks, R.G.¹ Cleven, C.D.² Horn, L.A.³ Nappi, M.⁴ Weil, C.⁵ Soni, M.H.⁶ Julian Jr., R.K.⁷

3
- 4244131217
- Non-destructive Ion Trap Mass Spectrometer and Method, US Patent applied, 1996
- R.G. Cooks, C.D. Cleven, L.A. Horn, M. Nappi, C. Weil, M.H. Soni, R.K. Julian Jr., Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 146/147 (1995) 147-163; V. Frankevich, M.H. Soni, M. Nappi, R.G. Cooks, R.E. Santini, J. Amy, Non-destructive Ion Trap Mass Spectrometer and Method, US Patent applied, 1996.
- Frankevich, V.¹ Soni, M.H.² Nappi, M.³ Cooks, R.G.⁴ Santini, R.E.⁵ Amy, J.⁶

4
- 0001779356
- S.A. Lammert, C.D. Cleven, R.G. Cooks, J. Am. Soc. Mass Spectrom. 5 (1994) 29-36.
- (1994) J. Am. Soc. Mass Spectrom. , vol.5 , pp. 29-36
- Lammert, S.A.¹ Cleven, C.D.² Cooks, R.G.³

5
- 10644276453
- Y. Zerega, G. Brincourt, J. Andre, R. Catella, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 121 (1992) 77-86.
- (1992) Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. , vol.121 , pp. 77-86
- Zerega, Y.¹ Brincourt, G.² Andre, J.³ Catella, R.⁴

6
- 0012517334
- Y. Zerega, J. Andre, G. Brincourt, R. Catella, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 132 (1994) 57-65.
- (1994) Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. , vol.132 , pp. 57-65
- Zerega, Y.¹ Andre, J.² Brincourt, G.³ Catella, R.⁴

7
- 0012521136
- Y. Zerega, J. Andre, G. Brincourt, R. Catella, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 132 (1994) 67-72.
- (1994) Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. , vol.132 , pp. 67-72
- Zerega, Y.¹ Andre, J.² Brincourt, G.³ Catella, R.⁴

8
- 0012606736
- Y. Zerega, J. Andre, G. Brincourt, R. Catella, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 135 (1994) 155-164.
- (1994) Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. , vol.135 , pp. 155-164
- Zerega, Y.¹ Andre, J.² Brincourt, G.³ Catella, R.⁴

9
- 30844453821
- in press
- P. Perrier, T. Nguema, M. Carette, J. Andre, Y. Zerega, G. Brincourt, R. Catella, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. in press.
- Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc.
- Perrier, P.¹ Nguema, T.² Carette, M.³ Andre, J.⁴ Zerega, Y.⁵ Brincourt, G.⁶ Catella, R.⁷

10
- 0000252052
- F. Vedel, M. Vedel, Phys. Rev. A41 (1990) 2348.
- (1990) Phys. Rev. , vol.A41 , pp. 2348
- Vedel, F.¹ Vedel, M.²

11
- 0000260453
- Y. Wang, J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 112 (1992) 167; Y. Wang, J. Franzen, K.P. Wanczek, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 124 (1993) 125-144; Y. Wang, J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 132 (1994) 155; J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 125 (1993) 165; J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 130 (1994) 15-40.
- (1992) Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. , vol.112 , pp. 167
- Wang, Y.¹ Franzen, J.²

12
- 0000700670
- Y. Wang, J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 112 (1992) 167; Y. Wang, J. Franzen, K.P. Wanczek, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 124 (1993) 125-144; Y. Wang, J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 132 (1994) 155; J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 125 (1993) 165; J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 130 (1994) 15-40.
- (1993) Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. , vol.124 , pp. 125-144
- Wang, Y.¹ Franzen, J.² Wanczek, K.P.³

13
- 0000575240
- Y. Wang, J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 112 (1992) 167; Y. Wang, J. Franzen, K.P. Wanczek, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 124 (1993) 125-144; Y. Wang, J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 132 (1994) 155; J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 125 (1993) 165; J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 130 (1994) 15-40.
- (1994) Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. , vol.132 , pp. 155
- Wang, Y.¹ Franzen, J.²

14
- 33846894444
- Y. Wang, J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 112 (1992) 167; Y. Wang, J. Franzen, K.P. Wanczek, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 124 (1993) 125-144; Y. Wang, J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 132 (1994) 155; J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 125 (1993) 165; J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 130 (1994) 15-40.
- (1993) Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. , vol.125 , pp. 165
- Franzen, J.¹

15
- 0002793374
- Y. Wang, J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 112 (1992) 167; Y. Wang, J. Franzen, K.P. Wanczek, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 124 (1993) 125-144; Y. Wang, J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 132 (1994) 155; J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 125 (1993) 165; J. Franzen, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 130 (1994) 15-40.
- (1994) Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. , vol.130 , pp. 15-40
- Franzen, J.¹

16
- 0001641153
- M. Splendore, F.A. Londry, R.E. March, R.J.S. Morrison, P. Perrier, J. Andre, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 156 (1996) 11-29.
- (1996) Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. , vol.156 , pp. 11-29
- Splendore, M.¹ Londry, F.A.² March, R.E.³ Morrison, R.J.S.⁴ Perrier, P.⁵ Andre, J.⁶

* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.