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Volumn 61, Issue 23, 2000, Pages 15762-15765

Low-temperature ellipsometry

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EID: 0001325379     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.61.15762     Document Type: Article
Times cited : (47)

References (26)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.