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Volumn 63, Issue 16, 1993, Pages 2210-2212

Interface roughness scattering in semiconducting and semimetallic InAs-Ga1-xInxSb superlattices

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EID: 0001287773     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.110800     Document Type: Article
Times cited : (59)

References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.