Ultrafast X-ray diffraction theory

Journal of Physical Chemistry A

Volumn 102, Issue 47, 1998, Pages 9523-9530

  Cao, Jianshu ^a,b   Wilson, Kent R ^a,b  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

^b MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001277694     PISSN: 10895639     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp982054p     Document Type: Article

References (22)

1. Róentgen, W. C. Nature 1896, 53, 274.
2. Rentzepis, E. P. M. Proc. SPIE 1995, 2521.
3. Srajer, V.; Teng, T. Y.; Ursby, T.; Pradervand, C.; Ren, Z.; Adachi, S.; Schildkamp, W.; Bourgeois, D.; Wulff, M.; Moffat, K. Science 1996, 274, 1726.
4. Schoenlein, R. W.; Leemans, W. P.; Chin, A. H.; Volfbeyn, P.; Glover, T. E.; Balling, T. E.; Zolotorev, M.; Kim, K. J.; Chattopadhyay, S.; Shank, C. V. Science 1996, 274, 236.
5. Guo, T.; Rose-Petruck, C.; Jimenez, R.; Raksi, F.; Squier, J.; Walker, B.; Wilson, K. R.; Barty, C. P. J. Proc. SPIE 1997, 3157, 84.
6. Rischel, C.; Rousse, A.; Uschmann, I.; Albouy, O.-A.; Greindre, J.-P.; Audebert, P.; Gauthier, J.-C.; Fórdter, E.; Martin, J.-L.; Antonetti, A. Nature 1997, 390, 490.
7. Wark, J. Contemp. Phys. 1996, 37, 205.
8. Raksi, F.; Wilson, K. R.; Jiang, Z.; Ikhlef, A.; Cote, C. Y.; Kieffer, J.-C. J. Chem. Phys. 1996, 104, 6066.
9. Bergsma, J. P.; Coladonato, M. H.; Edelsten, P. M.; Kahn, J. D.; Wilson, K. R.; Fredkin, D. R. J. Chem. Phys. 1986, 84, 6151.
10. Ben-Nun, M.; Cao, J.; Wilson, K. R. J. Phys. Chem. 1997, 101, 8743.
11. Cao, J.; Wilson, K. R. Proc. SPIE 1998, 3273. In press.
12. Lin, S. H.; Chao, C. H.; Ma, H.; Rentzepis, P. M. Proc. SPIE 1995, 2521.
13. Cao, J.; Bardeen, C.; Wilson, K. R. Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 1406.
14. Cao, J.; Bardeen, C.; Wilson, K. R. J. Chem. Phys. 1998. Submitted for publication.
15. Agarwal, B. K. X-ray Spectroscopy: An Introduction; Springer-Verlag: Berlin, 1991.
16. Murnane, M. M.; Kapteyn, H. C.; Falcone, R. W. Phys. Rev. Lett. 1989, 62, 155.
17. Bonham, R. A.; Fink, M. High Eergy Electron Scattering; Van Norstrand Reinhold Company: New York, 1974.
18. Krause, J. L.; Schafer, K. J.; Ben-Nun, M.; Wilson, K. R. Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 4978.
19. Ben-Nun, M.; Martinez, T. J.; Weber, P. M.; Wilson, K. R. Chem. Phys. Lett. 1996, 262, 405.
20. Mukamel, S.; Tretiak, S.; Wagersreiter, T.; Chernyak, V. Science 1997, 277, 781.
21. Williamson, J. C.; Zewail, A. H. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 1991, 88, 2766.
22. Elsayed-Ali, H. E.; Weber, P. M. In Time-Resolved Electron and X-ray Diffraction; Rentzepis, P. M., Helliwell, J., Eds.; Oxford Press: New York, 1995.