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Volumn 71, Issue 13, 1997, Pages 1834-1836

The effect of reactive plasma etching on the transient enhanced diffusion of boron in silicon

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EID: 0001245995     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.119414     Document Type: Article
Times cited : (14)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.