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Volumn 15, Issue 8, 1977, Pages 3836-3843

Defect energy levels in boron-doped silicon irradiated with 1-MeV electrons

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EID: 0001214514     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.15.3836     Document Type: Article
Times cited : (265)

References (28)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.