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Volumn 60, Issue 2, 1999, Pages 1710-1712

Lifetime measurement of [Formula Presented] using an electrostatic ion trap

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EID: 0001121322     PISSN: 10502947     EISSN: 10941622     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevA.60.1710     Document Type: Article
Times cited : (24)

References (13)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.