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Volumn 183, Issue 2, 1999, Pages 222-231

Structural characterization of Ti-Silicalite-1: A synchrotron radiation X-ray powder diffraction study

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EID: 0001004165     PISSN: 00219517     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1006/jcat.1999.2403     Document Type: Article
Times cited : (114)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.