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Volumn 74, Issue 2, 1993, Pages 1179-1187

Evaluation of ohmic contacts formed by B+ implantation and Ti-Au metallization on diamond

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EID: 0000980959     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.354918     Document Type: Review
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.