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Volumn 60, Issue 19, 1992, Pages 2383-2385

Coimplantation and electrical activity of C in GaAs: Stoichiometry and damage effects

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EID: 0000942724     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.107004     Document Type: Article
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References (20)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.