X-ray yield scaling studies performed on the OMEGA laser

Review of Scientific Instruments

Volumn 72, Issue 1 II, 2001, Pages 678-681

  Workman, J ^a   Kyrala, G A ^a  

^a LOS ALAMOS NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000876219     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1318251     Document Type: Article

References (16)

1. S. R. Goldman, S. E. Caldwell, M. D. Wilke, D. C. Wilson, C. W. Barnes, W. W. Hsing, N. D. Delamater, G. T. Schappert, J. W. Grove, E. L. Lindman, J. M. Wallace, R. P. Weaver, A. M. Dunne, M. J. Edwards, P. Graham, and B. R. Thomas, Phys. Plasmas 6, 3327 (1999).
2. R. M. Moore, in Handbook of Plasma Physics, Physics of Laser Plasma, edited by A. M. Rubenchik and S. Witkowski (North-Holland, New York 1991), Vol. 3.
3. B. Yaakobi, P. Bourke, Y. Conturie, J. Delettrez, J. M. Forsyth, R. D. Frankel, L. M. Goldman, R. L. McCrory, W. Seka, J. M. Soures, A. J. Burek, and R. E. Deslattes, Opt. Commun. 38, 196 (1981).
4. D. L. Matthews, E. M. Campbell, N. M. Ceglio, G. Hermes, R. Kauffman, L. Koppel, R. Lee, K. Manes, V. Rupert, V. W. Slivinsky, R. Turner, and F. Ze, J. Appl. Phys. 54, 4260 (1983).
5. D. W. Phillion and C. J. Hailey, Phys. Rev. A 34, 4886 (1986).
6. G. A. Kyrala, R. D. Fulton, E. K. Wahlin, L. A. Jones, G. T. Schappert, J. A. Cobble, and A. J. Taylor, Appl. Phys. Lett. 60, 2195 (1992).
7. G. J. Tallents, M. H. Key, A. Ridgeley, W. Shaikh, C. L. S. Lewis, D. O'Neill, S. J. Davidson, N. J. Freeman, and D. Perkins, J. Quant. Spectrosc. Radiat. Transf. 43, 53 (1990).
8. J. C. Gauthier, S. Bastiani, P. Audebert, J. P. Geindre, K. Neuman, T. Donnelly, M. Hoffer, R. W. Falcone, R. Sheperd, D. Price, and B. White, Proc. SPIE 2523, 242 (1995).
9. R. Kauffman, in Handbook of Plasma Physics, Physics of Laser Plasma, edited by A. M. Rubenchik and S. Witkowski (North-Holland, New York 1991), Vol. 3.
10. S. G. Glendinning, P. Amendt, K. S. Budil, B. A. Hammel, D. H. Kalantar, M. H. Key, O. L. Landen, B. A. Remington, and D. E. Desenne, Proc. SPIE 2523, 29 (1995).
11. J. Dunn, B. K. F. Young, A. L. Osterheld, M. E. Foord, R. S. Walling, R. E. Stewart, and A. Ya. Faenov, Proc. SPIE 2523, 254 (1995).
12. T. R. Boehly, D. L. Brown, R. S. Craxton, R. L. Keck, J. P. Knauer, J. H. Kelly, T. J. Kessler, S. A. Kumpan, S. J. Loucks, S. A. Letzring, F. J. Marshall, R. L. McCrory, S. F. B. Morse, W. Seka, J. M. Sources, and C. P. Verdon, Opt. Commun. 133, 496 (1997).
13. L. N. Koppel and J. D. Eckels, UCRL-79781 (1977).
14. B. L. Henke, J. Y. Uejio, G. F. Stone, C. H. Dittmore, and F. G. Fujiwara, J. Opt. Soc. Am. B 3, 1540 (1986).
15. A. B. Bullock et al., Rev. Sci. Instrum. (these proceedings).
16. G. A. Kyrala and J. Workman, Rev. Sci. Instrum. (these proceedings).