Ultrathin magnetic particles

Journal of Applied Physics

Volumn 85, Issue 8 II B, 1999, Pages 6166-6168

  Marty, F ^a   Vaterlaus, A ^a   Weich, V ^a   Stamm, C ^a   Maier, U ^a   Pescia, D ^a  

^a ETH ZURICH   (Switzerland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000850904     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.370031     Document Type: Article

References (26)

1. C. Kittel, Phys. Rev. 70, 965 (1946).
2. R. Q. Wu, L. J. Chen, A. Shick, and A. J. Freeman, J. Magn. Magn. Mater. 177-181, 1216 (1998).
3. P. Krams, F. Lauks, R. L. Stamps, B. Hillebrands, and G. Güntherodt, Phys. Rev. Lett. 69, 3674 (1992); P. Krams, F. Lauks, R. L. Stamps, B. Hillebrands, G. Güntherodt, and H. P. Oepen, J. Magn. Magn. Mater. 121, 483 (1993).
4. P. Krams, F. Lauks, R. L. Stamps, B. Hillebrands, and G. Güntherodt, Phys. Rev. Lett. 69, 3674 (1992); P. Krams, F. Lauks, R. L. Stamps, B. Hillebrands, G. Güntherodt, and H. P. Oepen, J. Magn. Magn. Mater. 121, 483 (1993).
5. W. F. Brown, J. Appl. Phys. 39, 993 (1968).
6. A. Aharoni, J. Appl. Phys. 63, 5879 (1988).
7. E. Gu, E. Ahmad, S. J. Gray, C. Daboo, J. A. C. Bland, and L. M. Brown, Phys. Rev. Lett. 78, 1158 (1997).
8. D. W. Pohl, Rev. Sci. Instrum. 58, 54 (1987).
9. A. Vaterlaus, U. Maier, U. Ramsperger, and A. Hensch, Rev. Sci. Instrum. 68, 2800 (1997).
10. H. P. Oepen, J. Magn. Magn. Mater. 93, 116 (1991).
11. K. Koike, H. Matsuyama, and K. Hayakawa, Scanning Microsc. Suppl. 1, 241 (1987).
12. M. R. Scheinfein et al., Rev. Sci. Instrum. 61, 2501 (1990).
13. R. Allenspach, J. Magn. Magn. Mater. 129, 160 (1994).
14. Ch. Stamm, F. Marty, A. Vaterlaus, V. Weich, S. Egger, U. Maier, U. Ramsperger, H. Fuhrmann, and D. Pescia, Science 282, 449 (1998).
15. W. Weber, C. H. Back, A. Bischof, D. Pescia, and R. Allenspach, Nature (London) 374, 788 (1995).
16. M. Hehn, K. Ounadjela, J. P. Bucher, F. Rousseaux, D. Decanini, B. Bartenlian, and C. Chappert, Science 272, 1782 (1996).
17. U. Ebels, A. O. Adeyeye, M. Gester, C. Daboo, R. P. Cowbura, and J. A. C. Bland, J. Appl. Phys. 81, 4724 (1997).
18. C. Beeli, B. Doudin, J.-Ph. Ansermet, and P. A. Stadelmann, Ultramicroscopy 67, 143 (1997).
19. M. S. Wei and S. Y. Chou, J. Appl. Phys. 76, 6679 (1994); 177-181, 1216 (1998) and the references therein.
20. M. S. Wei and S. Y. Chou, J. Appl. Phys. 76, 6679 (1994); 177-181, 1216 (1998) and the references therein.
21. D. D. Awschalom and D. P. DiVincenzo, Phys. Today 48, 43 (1995) and references therein.
22. A. D. Kent, S. von Molnar, S. Gider, and D. D. Awschalom, J. Appl. Phys. 76, 6656 (1994).
23. J. F. Smyth, S. Schultz, D. R. Fredkin, D. P. Kern, S. A. Rishton, H. Schmid, M. Cali, and T. R. Koehler, J. Appl. Phys. 69, 5262 (1991).
24. R. M. H. New, R. F. W. Pease, and R. L. White, J. Vac. Sci. Technol. B 13, 1089 (1995).
25. W. Wemsdorfer, B. Doudin, D. Mailly, K. Hasselbach, A. Benoit, J. Meier, J. P. Ansermet, and B. Barbara, Phys. Rev. Lett. 77, 1873 (1996).
26. F. Rousseaux, D. Decanini, F. Carcenac, E. Cambril, M. F. Ravet, C. Chappert, N. Bardou, B. Bartenlian, and P. Veillet, J. Vac. Sci. Technol. B 13, 2787 (1995).