Growth of giant magnetoresistance spin valves using indium as a surfactant

Journal of Applied Physics

Volumn 79, Issue 5, 1996, Pages 2491-2496

  Egelhoff Jr , W F ^a   Chen, P J ^a   Powell, C J ^a   Stiles, M D ^a   McMichael, R D ^a  

^a NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS AND TECHNOLOGY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000795243     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.362659     Document Type: Article

References (105)

1. E. Velu, C. Dupas, D. Renard, J. P. Renard, and J. Seiden, Phys. Rev. B 37, 668 (1988).
2. G. Binasch, P. Grunberg, F. S. Sauerenbach, and W. Zinn, Phys. Rev. B 39, 4828 (1989).
3. M. N. Baibich, J. M. Broto, A. Fert, F. Nguyen van Dau, F. Petroff, P. Etienne, G. Creuzet, A. Friederich, and J. Chazelas, Phys. Rev. Lett. 61, 2472 (1988).
4. D. A. Steigerwald, I. Jacob, and W. F. Egelhoff, Jr., Surf. Sci. 202, 472 (1988); W. F. Egelhoff, Jr. and D. A. Steigerwald, J. Vac. Sci. Technol. A 7, 2167 (1989).
5. D. A. Steigerwald, I. Jacob, and W. F. Egelhoff, Jr., Surf. Sci. 202, 472 (1988); W. F. Egelhoff, Jr. and D. A. Steigerwald, J. Vac. Sci. Technol. A 7, 2167 (1989).
6. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
7. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
8. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
9. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
10. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
11. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
12. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
13. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
14. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
15. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
16. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
17. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
18. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
19. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G.
20. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
21. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
22. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
23. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
24. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
25. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
26. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
27. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
28. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
29. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
30. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
31. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
32. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von
33. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
34. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
35. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
36. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
37. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
38. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
39. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
40. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
41. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
42. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
43. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
44. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
45. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H.
46. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
47. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
48. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
49. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
50. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
51. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
52. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
53. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
54. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
55. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
56. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
57. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
58. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H.
59. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
60. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kraxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989); C. Humphreys, Nature 341, 689 (1989); M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11682 (1990); K. Fujita, S. Fukatsu, H. Yaguchi, T. Igarashi, Y. Shiraki, and R. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1981 (1990); K. Fuktani, H. Daimon, and S. Ino, in Structure of Surfaces III, edited by S. Y. Tong, M. A. Van Hove, X. Xide, and K. Takayanagi (Springer, Berlin, 1991), p. 615; J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, J. F. van der Veen, M. Finney, and C. Norris, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2146 (1991); F. K. LeGoues, M. Horn von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991); M. Horn von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991); S. Iwanari and K. Takayanagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1978 (1991); H. J. Osten, G. Lippert, and J. Klatt, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1151 (1992); R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, Phys. Rev. B 45, 13749 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, B. Dietrich, and E. Bugiel, Phys. Rev. Lett. 69, 450 (1992); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, E. Bugiel, and S. Hinrich, Appl. Phys. Lett. 60, 2522 (19192); H. J. Osten, E. Bugiel, and J. Klatt, ibid. 61, 1918 (1992); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, Thin Solid Films 222, 112 (1992); O. Jusko, U. Köhler, G. J. Pietsch, B. Müller, and M. Henzler, Appl. Phys. A. 54, 265 (1992); S. Iwanari and K. Takayanagi, J. Cryst. Growth 119, 229 (1992); S. Iwanari, Y. Kimura, and K. Takayanagi, ibid. 119, 241 1992); D. Krüeger, R. Kurps, H. J. Osten, G. Lippert, and D. Roeser, Thin wlid Films 221, 61 (1992); D. Rioux and H. Höcht, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 759 (1992); Phys. Rev. B 46, 6857 (1992); R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianetta, ibid. 45, 13749 (1992); K. Sakamoto, K. Kyoya, K. Miki, H. Matsuhata, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L204 (1993); D. Rioux and H. Höcht, Phys. Rev. B. 47, 1434 (1993); K. Fukutani, Surf. Sci. 281, 285 (1993); K. Sakamoto, K. Miki, T. Sakamoto, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth 127, 392 (1993); H. J. Osten, J. Klatt, G. Lippert, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 127, 396 (1993); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Ext. Abs. of the Int. Conf. on Solid State Devices and Mat., Makuhari, 1993, p. 246; J. Massies and N. Grandjean, Phys. Rev. B 48, 8502 (1993); E. Tournie and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993); E. Tournié and K. H. Ploog, Thin Solid Films 231, 43 (1993); M. Horn von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993); A.-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. 70, 4102 (1993); D. J. Eaglesham, F. C. Unterwald, and D. C. Jacobson, Phys. Rev. Lett. 70, 966 (1993); J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993); H. Hibino, N. Shimizu, K. Sumitomo, Y. Shinoda, T. Nishioka, and T. Ogino, J. Vac. Sci. Technol. A 12, 23 (1994); K. Sakamoto, H. Matsuhata, K. Kyoya, K. Miki, and T. Sakamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 2307 (1994); Z. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 693 (1994); M. Horn von Hoegen, A. A. Falou, B . H. Muller, U. Köhler, L. Andersohn, B. Dahlheimer, and M. Henzler, Phys. Rev. B 49, 2637 (1994); M. I. Larsson, W.-X. Ni, K. Joelsson, and G. V. Hansson, Appl. Phys. Lett. 65, 1409 (1994); I. Markov, Phys. Rev. B 50, 11271 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, and A. Al Falou, 50, 11640 (1994); A. J. Schell-Sorokin and R. M. Tromp, Surf. Sci. 319, 110 (1994); M. Horn von Hoegen, B. H. Müller, A. Al Falou, and M. Henzler, Phys. Rev. Lett. 71, 3170 (1994); M. Horn von Hoegen, Appl. Phys. A 59, 503 (1994); M. Horn von Hoegen, M. Copel, J. C. Tsang, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 50, 10811 (1994); S. Zaima, K. Sato, T. Kitani, T. Matsuyama, H. Ikeda, and Y. Yasuda, J. Cryst. Growth 150, 944 (1995); B. Voigtländer, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995); G. W. Anderson, M. C. Hanf, and P. R. Norton, Phys. Rev. Lett. 74, 2764 (1995); J. M. C. Thornton, A. A. Williams, J. E. Macdonald, R. G. van Silfhout, M. Finney, and C. Norris, Surf. Sci. (in press); H. Yamaguchi, H. Oyanagi, H. Matsuhata, and K. Kyoya, J. Cryst. Growth (in press); H. J. Osten (unpublished); M. Schmidt, H. Wolter, M. Noheln, and K. Wandelt, J. Vac. Sci. Technol. (in press).
61. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
62. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
63. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
64. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
65. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
66. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
67. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
68. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
69. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
70. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
71. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
72. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
73. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
74. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
75. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
76. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
77. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
78. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
79. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
80. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
81. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
82. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
83. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm,
84. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
85. B. Poelsema, R. Kunkel, N. Nagel, A. F. Becker, G. Rosenfeld, L. K. Verheij, and G. Comsa, Appl. Phys. A 53, 369 (1991); H. A. van der Vegt, H. M. van Pinxteren, M. Lohmeier, E. Vleig, and J. M. C. Thornton, Phys. Rev. Lett. 68, 3335 (1992); Y. Inoue, S. Takebayashi, and N. Okumura, J. Magn. Magn. Mater. 126, 141 (1993); E. Kopatzki, S. Günther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993); G. Rosenfeld, R. Servaty, C. Teichert, B. Poelsema, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 71, 895 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); H. Wolter, M. Schmidt, and K. Wandelt, Surf. Sci. 298, 173 (1993); K. Kalki, M. Schick, G. Ceballos, and K. Wandelt, Thin Solid Films 228, 36 (1993); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, Surf. Sci. 307-309, 507 (1993); M. Breeman, Ph.D. thesis, University of Groningen, 1993; M. Breeman, G. T. Barkema, and D. O. Boerma, Proc. Mater. Res. Soc. Symp. 317, 329 (1994); J. Vrijmoeth, H. A. van der Vegt, J. A. Meyer, E. Vlieg, and R. J. Behm, Phys, Rev. Lett. 72, 3843 (1994); S. Esch, M. Hohage, T. Michely, and G. Comsa, Phys. Rev. Lett. 72, 518 (1994); D. Li, M. Freitag, J. Pearson, Z. Q. Qui, and S. D. Bader, J. Appl. Phys. 76, 6425 (1994); J. Tersoff, A. W. Denier van der Gon, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 72, 266 (1994); H. A. van der Vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. H. Etgens, X. Torrelles, P. Fajardo, and E. Vlieg, Phys. Rev. B 51, 14806 (1995); H. A. van der Vegt, W. J. Huisman, P. G. Howes, and E. Vlieg, Surf. Sci. 330, 101 (1995); V. Scheuch, K. Potthast, B. Voigtländer, and H. P. Bonzel, Surf. Sci. (in press); J. A. Meyer and R. J. Behm, Phys. Rev. Lett. 73, 364 (1994); B. Aufray, H. Giordano, B. Legrand, and G. Tréglia, Surf. Sci. 307-309, 531 (1994); M. Schmidt, H. Wolter, and K. Wandelt, ibid. 307-309, 507 (1994); M. W. Grant, M. A. Boshart, D. J. Dieleman, and L. E. Seiberling, ibid. 316, L1088 (1994); J. Camarero, L. Spendeler, G. Schmidt, K. Heinz, J. J. de Miguel, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett. 73, 2448 (1994); H. Zeng and G. Vidali, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 282 (1995); Y. G. Shen, K. J. O'Connor, H. van Zee, K. Wandelt, and R. J. MacDonald, Thin Solid Films 263, 72 (1995).
86. V S. Speriosu, B. Dieny, P. Humbert, B. A. Gurney, and H. Lefakis, Phys. Rev. B 44, 5358 (1991); B. Dieny, V. S. Speriosu, S. S. P. Parkin, B. A. Gurney, D. R. Wilhoit, and D. Mauri, ibid. 43, 1297 (1991); C. Meny, J. P. Jay, P. Pannissod, P. Humbert, V. S. Speriosu, H. Lefaskis, J. P. Nozieres, and B. A. Gurney, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 313, 289 (1993); and B. Dieny, J. Magn. Magn. Mater. 136, 335 (1994).
87. V S. Speriosu, B. Dieny, P. Humbert, B. A. Gurney, and H. Lefakis, Phys. Rev. B 44, 5358 (1991); B. Dieny, V. S. Speriosu, S. S. P. Parkin, B. A. Gurney, D. R. Wilhoit, and D. Mauri, ibid. 43, 1297 (1991); C. Meny, J. P. Jay, P. Pannissod, P. Humbert, V. S. Speriosu, H. Lefaskis, J. P. Nozieres, and B. A. Gurney, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 313, 289 (1993); and B. Dieny, J. Magn. Magn. Mater. 136, 335 (1994).
88. V S. Speriosu, B. Dieny, P. Humbert, B. A. Gurney, and H. Lefakis, Phys. Rev. B 44, 5358 (1991); B. Dieny, V. S. Speriosu, S. S. P. Parkin, B. A. Gurney, D. R. Wilhoit, and D. Mauri, ibid. 43, 1297 (1991); C. Meny, J. P. Jay, P. Pannissod, P. Humbert, V. S. Speriosu, H. Lefaskis, J. P. Nozieres, and B. A. Gurney, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 313, 289 (1993); and B. Dieny, J. Magn. Magn. Mater. 136, 335 (1994).
89. V S. Speriosu, B. Dieny, P. Humbert, B. A. Gurney, and H. Lefakis, Phys. Rev. B 44, 5358 (1991); B. Dieny, V. S. Speriosu, S. S. P. Parkin, B. A. Gurney, D. R. Wilhoit, and D. Mauri, ibid. 43, 1297 (1991); C. Meny, J. P. Jay, P. Pannissod, P. Humbert, V. S. Speriosu, H. Lefaskis, J. P. Nozieres, and B. A. Gurney, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 313, 289 (1993); and B. Dieny, J. Magn. Magn. Mater. 136, 335 (1994).
90. L. Néel, Comp. Rend. Acad. Sci. (France) 255, 1545 (1962) and 255, 1676 (1962).
91. L. Néel, Comp. Rend. Acad. Sci. (France) 255, 1545 (1962) and 255, 1676 (1962).
92. R. D. K. Misra, T. Ha. Y. Kadmon, C. J. Powell, M. D. Stiles, R. D. McMichael, and W. F. Egelhoff, Jr., Proc. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 384, 373 (1995).
93. W. F. Egelhoff, Jr., P. J. Chen, R. D. K. Misra, T. Ha, Y. Kadmon, C. J. Powell, M. D. Stiles, R. D. McMichael, C.-L. Lin, J. M. Sivertsen, and J. H. Judy, J. Appl. Phys. (submitted).
94. S. Tanuma, C. J. Powell, and D. R. Penn, Surf. Interface Anal. 17, 911 (1991); A. Jablonski and C. J. Powell, ibid. 20, 771 (1993).
95. S. Tanuma, C. J. Powell, and D. R. Penn, Surf. Interface Anal. 17, 911 (1991); A. Jablonski and C. J. Powell, ibid. 20, 771 (1993).
96. C. L. Liu, J. M. Cohen, J. B. Adams, and A. F. Voter, Surf. Sci. 253, 334 (1991); M. Giesen-Seibert, F. Schmitz, R. Jentjens, and H. Ibach, ibid. 329, 47 (1995); T. Flores, S. Junghans, and M. Wuttig (to be published).
97. C. L. Liu, J. M. Cohen, J. B. Adams, and A. F. Voter, Surf. Sci. 253, 334 (1991); M. Giesen-Seibert, F. Schmitz, R. Jentjens, and H. Ibach, ibid. 329, 47 (1995); T. Flores, S. Junghans, and M. Wuttig (to be published).
98. C. L. Liu, J. M. Cohen, J. B. Adams, and A. F. Voter, Surf. Sci. 253, 334 (1991); M. Giesen-Seibert, F. Schmitz, R. Jentjens, and H. Ibach, ibid. 329, 47 (1995); T. Flores, S. Junghans, and M. Wuttig (to be published).
99. T. Klas, J. Voight, W. Keppner, R. Wesche, and G. Schatz, Phys. Rev. Lett. 57, 1068 (1986); T. Klas, J. Voight, W. Keppner, R. Platzer, R. Wesche, and G. Schatz, Hyperfine Interact. 34, 577 (1987). Europhys. Lett. 7, 151 (1988); Surf. Sci. 216, 270 (1989); G. Schatz, R. Fink, K. Jacobs, U. Kohl, G. Drausch, J. Lohmüller, B. Luckscheiter, B.-U. Runge, and U. Wöhrmann, Phys. Scr. T 49, 554 (1993); C. De, W. Van Siclen, Phys. Rev. B 51, 7796 (1995).
100. T. Klas, J. Voight, W. Keppner, R. Wesche, and G. Schatz, Phys. Rev. Lett. 57, 1068 (1986); T. Klas, J. Voight, W. Keppner, R. Platzer, R. Wesche, and G. Schatz, Hyperfine Interact. 34, 577 (1987). Europhys. Lett. 7, 151 (1988); Surf. Sci. 216, 270 (1989); G. Schatz, R. Fink, K. Jacobs, U. Kohl, G. Drausch, J. Lohmüller, B. Luckscheiter, B.-U. Runge, and U. Wöhrmann, Phys. Scr. T 49, 554 (1993); C. De, W. Van Siclen, Phys. Rev. B 51, 7796 (1995).
101. T. Klas, J. Voight, W. Keppner, R. Wesche, and G. Schatz, Phys. Rev. Lett. 57, 1068 (1986); T. Klas, J. Voight, W. Keppner, R. Platzer, R. Wesche, and G. Schatz, Hyperfine Interact. 34, 577 (1987). Europhys. Lett. 7, 151 (1988); Surf. Sci. 216, 270 (1989); G. Schatz, R. Fink, K. Jacobs, U. Kohl, G. Drausch, J. Lohmüller, B. Luckscheiter, B.-U. Runge, and U. Wöhrmann, Phys. Scr. T 49, 554 (1993); C. De, W. Van Siclen, Phys. Rev. B 51, 7796 (1995).
102. T. Klas, J. Voight, W. Keppner, R. Wesche, and G. Schatz, Phys. Rev. Lett. 57, 1068 (1986); T. Klas, J. Voight, W. Keppner, R. Platzer, R. Wesche, and G. Schatz, Hyperfine Interact. 34, 577 (1987). Europhys. Lett. 7, 151 (1988); Surf. Sci. 216, 270 (1989); G. Schatz, R. Fink, K. Jacobs, U. Kohl, G. Drausch, J. Lohmüller, B. Luckscheiter, B.-U. Runge, and U. Wöhrmann, Phys. Scr. T 49, 554 (1993); C. De, W. Van Siclen, Phys. Rev. B 51, 7796 (1995).
103. T. Klas, J. Voight, W. Keppner, R. Wesche, and G. Schatz, Phys. Rev. Lett. 57, 1068 (1986); T. Klas, J. Voight, W. Keppner, R. Platzer, R. Wesche, and G. Schatz, Hyperfine Interact. 34, 577 (1987). Europhys. Lett. 7, 151 (1988); Surf. Sci. 216, 270 (1989); G. Schatz, R. Fink, K. Jacobs, U. Kohl, G. Drausch, J. Lohmüller, B. Luckscheiter, B.-U. Runge, and U. Wöhrmann, Phys. Scr. T 49, 554 (1993); C. De, W. Van Siclen, Phys. Rev. B 51, 7796 (1995).
104. T. Klas, J. Voight, W. Keppner, R. Wesche, and G. Schatz, Phys. Rev. Lett. 57, 1068 (1986); T. Klas, J. Voight, W. Keppner, R. Platzer, R. Wesche, and G. Schatz, Hyperfine Interact. 34, 577 (1987). Europhys. Lett. 7, 151 (1988); Surf. Sci. 216, 270 (1989); G. Schatz, R. Fink, K. Jacobs, U. Kohl, G. Drausch, J. Lohmüller, B. Luckscheiter, B.-U. Runge, and U. Wöhrmann, Phys. Scr. T 49, 554 (1993); C. De, W. Van Siclen, Phys. Rev. B 51, 7796 (1995).
105. Landolt-Börnstein, Group III, edited by K.-H. Hellwege and J. L. Olsen (Springer, Berlin, 1982), Vol. 15, p. 177.