메뉴 건너뛰기




Volumn 68, Issue 21, 1996, Pages 2993-2995

Mechanism for anneal-induced interfacial charging in SiO2 thin films on Si

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 0000775116     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.116674     Document Type: Article
Times cited : (37)

References (25)
  • 9
    • 36449005286 scopus 로고    scopus 로고
    • K. Vanheusden, W. L. Warren, J. R. Schwank, D. M. Fleetwood, M. R. Shaneyfelt, P. S. Winokur, and R. A. B. Devine, Appl. Phys. Lett. 68, 2117 (1996).
    • K. Vanheusden, W. L. Warren, J. R. Schwank, D. M. Fleetwood, M. R. Shaneyfelt, P. S. Winokur, and R. A. B. Devine, Appl. Phys. Lett. 68, 2117 (1996).
  • 11
    • 0026820126 scopus 로고    scopus 로고
    • S. Cristoloveanu and S. Williams, IEEE Trans. Electron. Devices Lett. 13, 102 (1992).
    • S. Cristoloveanu and S. Williams, IEEE Trans. Electron. Devices Lett. 13, 102 (1992).
  • 22
    • 85069403567 scopus 로고    scopus 로고
    • 2 Interface (Plenum, New York, 1988), p. 287.
    • 2 Interface (Plenum, New York, 1988), p. 287.
  • 24
    • 85069403029 scopus 로고    scopus 로고
    • D. R. Young (private communication).
    • D. R. Young (private communication).


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.