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Volumn 70, Issue 21, 1997, Pages 2813-2815

Relaxed Si1-xGex/Si1-x-yGexCy buffer structures with low threading dislocation density

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EID: 0000753710     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.119067     Document Type: Article
Times cited : (59)

References (13)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.