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Volumn 57, Issue 2, 1986, Pages 249-252

Unusually low surface-recombination velocity on silicon and germanium surfaces

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EID: 0000703152     PISSN: 00319007     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.57.249     Document Type: Article
Times cited : (912)

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    • 85070037032 scopus 로고    scopus 로고
    • Characterization of Si-SiO2 Interface Traps
    • Eades, W.D.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.