-
1
-
-
25044479020
-
-
Kratschmer, W.; Fostiropoulos, K.; Huffman, D. R. Chem. Phys. Lett. 1990, 170, 167.
-
(1990)
Chem. Phys. Lett.
, vol.170
, pp. 167
-
-
Kratschmer, W.1
Fostiropoulos, K.2
Huffman, D.R.3
-
2
-
-
0030134578
-
-
Yang, S. I.; Suh, Y. D.; Jin, S. M.; Kim, S. K.; Park, J.; Shin, E.-j.; Kim, D. J. Phys. Chem. 1996, 100, 9223.
-
(1996)
J. Phys. Chem.
, vol.100
, pp. 9223
-
-
Yang, S.I.1
Suh, Y.D.2
Jin, S.M.3
Kim, S.K.4
Park, J.5
Shin, E.-J.6
Kim, D.7
-
3
-
-
0001046144
-
-
Brorson, S. D.; Kelly, M. K.; Wenschuh, U.; Buhleier, R.; Kuhl, J. Phys. Rev. B 1992, 46, 7329.
-
(1992)
Phys. Rev. B
, vol.46
, pp. 7329
-
-
Brorson, S.D.1
Kelly, M.K.2
Wenschuh, U.3
Buhleier, R.4
Kuhl, J.5
-
4
-
-
84957348701
-
-
Thomas, T. N.; Taylor, R. A.; Ryan, J. F.; Mihailovic, D.; Zamboni, R. Europhys. Lett. 1994, 25, 403.
-
(1994)
Europhys. Lett.
, vol.25
, pp. 403
-
-
Thomas, T.N.1
Taylor, R.A.2
Ryan, J.F.3
Mihailovic, D.4
Zamboni, R.5
-
5
-
-
0000210403
-
-
Dexheimer, S. L.; Vareka, W. A.; Mittleman, D.; Zettl, A.; Shank, C. V. Chem. Phys. Lett. 1995, 235, 552.
-
(1995)
Chem. Phys. Lett.
, vol.235
, pp. 552
-
-
Dexheimer, S.L.1
Vareka, W.A.2
Mittleman, D.3
Zettl, A.4
Shank, C.V.5
-
6
-
-
11644276510
-
-
Rom, S. R.; Pong, R. G. S.; Bartoli, F. J.; Kafafi, Z. H. Phys. Rev. B 1992, 46, 15598.
-
(1992)
Phys. Rev. B
, vol.46
, pp. 15598
-
-
Rom, S.R.1
Pong, R.G.S.2
Bartoli, F.J.3
Kafafi, Z.H.4
-
7
-
-
0001755218
-
-
Hess, B. C.; Forgy, E. A.; Frolov, S.; Dick, D. D.; Vardeny, Z. V. Phys. Rev. B 1994, 50, 4871.
-
(1994)
Phys. Rev. B
, vol.50
, pp. 4871
-
-
Hess, B.C.1
Forgy, E.A.2
Frolov, S.3
Dick, D.D.4
Vardeny, Z.V.5
-
8
-
-
84957348405
-
-
Ebbesen, T. W.; Mochizuki, Y.; Tanigaki, K.; Hiura, H. Europhys. Lett. 1994, 25, 503.
-
(1994)
Europhys. Lett.
, vol.25
, pp. 503
-
-
Ebbesen, T.W.1
Mochizuki, Y.2
Tanigaki, K.3
Hiura, H.4
-
9
-
-
0001225062
-
-
Byrne, H. J.; Maser, W.; Ruhle, W. W.; Mittelbach, A.; Honle, W.; von Schnering, H. G.; Movaghar, B.; Roth, S. Chem. Phys. Lett. 1993, 204, 461.
-
(1993)
Chem. Phys. Lett.
, vol.204
, pp. 461
-
-
Byrne, H.J.1
Maser, W.2
Ruhle, W.W.3
Mittelbach, A.4
Honle, W.5
Von Schnering, H.G.6
Movaghar, B.7
Roth, S.8
-
10
-
-
5544261472
-
-
Farztdinov, V. M.; Lozovik, Y. E.; Matveets, Y. A.; Stepanov, A. G.; Letokhov, V. S. J. Phys. Chem. 1994, 98, 3290.
-
(1994)
J. Phys. Chem.
, vol.98
, pp. 3290
-
-
Farztdinov, V.M.1
Lozovik, Y.E.2
Matveets, Y.A.3
Stepanov, A.G.4
Letokhov, V.S.5
-
11
-
-
0001351925
-
-
Rosker, M. J.; Marcy, H. O.; Chang, T. Y.; Khoury, J. T.; Hansen, K.; Whetten, R. L. Chem. Phys. Lett. 1992, 196, 427.
-
(1992)
Chem. Phys. Lett.
, vol.196
, pp. 427
-
-
Rosker, M.J.1
Marcy, H.O.2
Chang, T.Y.3
Khoury, J.T.4
Hansen, K.5
Whetten, R.L.6
-
12
-
-
85087252376
-
-
note
-
21 In other words, one can determine a 20 ps decay time with an IRF time of up to 100 ps (in our case the IRF time is 60 ps). In any case, it is not necessary for the IRF to be much faster than the decay function itself.
-
-
-
-
13
-
-
5544244435
-
-
Kim, D.; Lee, M.; Suh, Y. D.; Kim, S. K. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 4429.
-
(1992)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.114
, pp. 4429
-
-
Kim, D.1
Lee, M.2
Suh, Y.D.3
Kim, S.K.4
-
14
-
-
0001084104
-
-
Lee, M.; Song, O.-K.; Seo, J.-C.; Kim, D.; Suh, Y. D.; Jin, S. M.; Kim, S. K. Chem. Phys. Lett. 1992, 196, 325.
-
(1992)
Chem. Phys. Lett.
, vol.196
, pp. 325
-
-
Lee, M.1
Song, O.-K.2
Seo, J.-C.3
Kim, D.4
Suh, Y.D.5
Jin, S.M.6
Kim, S.K.7
-
15
-
-
5344244745
-
-
Tanigaki, K.; Ebbesen, T. W.; Kuroshima, S. Chem. Phys. Lett. 1991, 185, 189.
-
(1991)
Chem. Phys. Lett.
, vol.185
, pp. 189
-
-
Tanigaki, K.1
Ebbesen, T.W.2
Kuroshima, S.3
-
16
-
-
12044260035
-
-
Wasielewski, M. R.; O'Neil, M. P.; Lykke, K. R.; Pellin, M. J.; Gruen, D. M. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 2774.
-
(1991)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.113
, pp. 2774
-
-
Wasielewski, M.R.1
O'Neil, M.P.2
Lykke, K.R.3
Pellin, M.J.4
Gruen, D.M.5
-
17
-
-
0001111725
-
-
Shin, E.-J.; Park, J.; Lee, M.; Kim, D.; Suh, Y. D.; Yang, S. I.; Jin, S. M.; Kim, S. K. Chem. Phys. Lett. 1993, 209, 427.
-
(1993)
Chem. Phys. Lett.
, vol.209
, pp. 427
-
-
Shin, E.-J.1
Park, J.2
Lee, M.3
Kim, D.4
Suh, Y.D.5
Yang, S.I.6
Jin, S.M.7
Kim, S.K.8
-
18
-
-
0343821647
-
-
Shin, E.-j.; Song, O.-K.; Kim, D.; Suh, Y. D.; Yang, S. I.; Kim, S. K. Chem. Phys. Lett. 1994, 218, 107.
-
(1994)
Chem. Phys. Lett.
, vol.218
, pp. 107
-
-
Shin, E.-J.1
Song, O.-K.2
Kim, D.3
Suh, Y.D.4
Yang, S.I.5
Kim, S.K.6
-
19
-
-
0347044623
-
-
Verheijen, M. A.; Meekes, H.; Meijer, G.; Bennema, P.; de Boer, J. L.; van Smaalen, S.; van Tendeloo, G.; Amelinckx, S.; Muto, S.; van Landuyt, J. Chem. Phys. 1992, 166, 287.
-
(1992)
Chem. Phys.
, vol.166
, pp. 287
-
-
Verheijen, M.A.1
Meekes, H.2
Meijer, G.3
Bennema, P.4
De Boer, J.L.5
Van Smaalen, S.6
Van Tendeloo, G.7
Amelinckx, S.8
Muto, S.9
Van Landuyt, J.10
-
20
-
-
0000118664
-
-
Tomita, M.; Hayashi, T.; Gaskell, P.; Maruno, T.; Tanaka, T. Appl. Phys. Lett. 1992, 61, 1171.
-
(1992)
Appl. Phys. Lett.
, vol.61
, pp. 1171
-
-
Tomita, M.1
Hayashi, T.2
Gaskell, P.3
Maruno, T.4
Tanaka, T.5
|