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Volumn 27, Issue 6, 1983, Pages 3780-3795

Theory of defects in vitreous silicon dioxide

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EID: 0000680063     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.27.3780     Document Type: Article
Times cited : (383)

References (74)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.