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Volumn 81, Issue 5, 1998, Pages 1015-1018

Structural characterization of various chiral smectic-C phases by resonant X-ray scattering

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EID: 0000679246     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.81.1015     Document Type: Article
Times cited : (364)

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    • (1993) Phys. Rev. E , vol.47 , pp. 1203
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.