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Volumn 38, Issue 5, 1988, Pages 3395-3399

Electrical and optical properties of defects in silicon introduced by high-temperature electron irradiation

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EID: 0000676869     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.38.3395     Document Type: Article
Times cited : (34)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.