-
1
-
-
11544311593
-
-
Haase, M. A.; Qiu, J.; DePuydt, J. M.; Cheng, H. Appl. Phys. Lett. 1991, 59, 1272.
-
(1991)
Appl. Phys. Lett.
, vol.59
, pp. 1272
-
-
Haase, M.A.1
Qiu, J.2
DePuydt, J.M.3
Cheng, H.4
-
2
-
-
0009839859
-
-
Neumark, G. F.; Park, R. M.; DePuydt, J. M. Phys. Today 1994, 47 (6), 26.
-
(1994)
Phys. Today
, vol.47
, Issue.6
, pp. 26
-
-
Neumark, G.F.1
Park, R.M.2
DePuydt, J.M.3
-
5
-
-
0039965882
-
-
Bredas, J. L.; Adant, C.; Tackx, P.; Persoons, A. Chem. Rev. 1994, 94, 243.
-
(1994)
Chem. Rev.
, vol.94
, pp. 243
-
-
Bredas, J.L.1
Adant, C.2
Tackx, P.3
Persoons, A.4
-
7
-
-
0003423447
-
-
American Chemical Society: Washington, DC
-
Marder, S. R.; Sohn, J. E.; Stucky, G. D., Eds. Materials for Nonlinear Optics, Chemical Perspectives; American Chemical Society: Washington, DC, 1991.
-
(1991)
Materials for Nonlinear Optics, Chemical Perspectives
-
-
Marder, S.R.1
Sohn, J.E.2
Stucky, G.D.3
-
8
-
-
0026169905
-
-
Sheik-Bahae, M.; Hutchings, D. C.; Hagan, D. J.; Van Stryland, E. W. IEEE J. Quant. Electron 1991, 27, 1296.
-
(1991)
IEEE J. Quant. Electron
, vol.27
, pp. 1296
-
-
Sheik-Bahae, M.1
Hutchings, D.C.2
Hagan, D.J.3
Van Stryland, E.W.4
-
9
-
-
0000616223
-
-
Shi, S.; Ji, W.; Tang, S. H.; Lang, J. P.; Xin, X. Q. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 3615.
-
(1994)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.116
, pp. 3615
-
-
Shi, S.1
Ji, W.2
Tang, S.H.3
Lang, J.P.4
Xin, X.Q.5
-
10
-
-
0028767361
-
-
Shi, S.; Ji, W.; Lang, J. P.; Xin, X. Q. J. Phys. Chem. 1994, 98, 3570.
-
(1994)
J. Phys. Chem.
, vol.98
, pp. 3570
-
-
Shi, S.1
Ji, W.2
Lang, J.P.3
Xin, X.Q.4
-
11
-
-
0029220580
-
-
Shi, S.; Ji, W.; Xie, W.; Chong, T. C.; Zeng, H. C.; Lang, J. P.; Xin, X. Q. Mater. Chem. Phys. 1995, 39, 298.
-
(1995)
Mater. Chem. Phys.
, vol.39
, pp. 298
-
-
Shi, S.1
Ji, W.2
Xie, W.3
Chong, T.C.4
Zeng, H.C.5
Lang, J.P.6
Xin, X.Q.7
-
12
-
-
0000573722
-
-
Shi, S.; Ji, W.; Xin, X. Q. J. Phys. Chem. 1995, 99, 894.
-
(1995)
J. Phys. Chem.
, vol.99
, pp. 894
-
-
Shi, S.1
Ji, W.2
Xin, X.Q.3
-
13
-
-
37049086969
-
-
Hou, H. W.; Xin, X. Q.; Liu, J.; Chen, M. Q.; Shi, S. J. Chem. Soc, Dalton Trans. 1994, 3211.
-
(1994)
J. Chem. Soc, Dalton Trans.
, pp. 3211
-
-
Hou, H.W.1
Xin, X.Q.2
Liu, J.3
Chen, M.Q.4
Shi, S.5
-
14
-
-
26544458225
-
-
Hou, H. W.; Ye, X. R.; Liu, J.; Chen, M. Q.; Shi, S. Chem. Mater. 1995, 7, 472.
-
(1995)
Chem. Mater.
, vol.7
, pp. 472
-
-
Hou, H.W.1
Ye, X.R.2
Liu, J.3
Chen, M.Q.4
Shi, S.5
-
15
-
-
25544456876
-
-
McDonald, J. W.; Frieson, G. D.; Rosenhein, L. D.; Newton, W. E. Inorg. Chim. Acta 1983, 72, 205.
-
(1983)
Inorg. Chim. Acta
, vol.72
, pp. 205
-
-
McDonald, J.W.1
Frieson, G.D.2
Rosenhein, L.D.3
Newton, W.E.4
-
17
-
-
0038569732
-
-
Wilson, A. J. C., Ed.; Kluwer: Boston
-
Creagh, D.C.; McAuley, W. J. In international Tables for X-ray Crystallography; Wilson, A. J. C., Ed.; Kluwer: Boston, 1992; Vol. C.
-
(1992)
international Tables for X-ray Crystallography
, vol.C
-
-
Creagh, D.C.1
McAuley, W.J.2
-
18
-
-
84975582305
-
-
Sheik-Bahae, M.; Said, A. A.; Van Stryland, E. W. Opt. Lett. 1989, 14, 955.
-
(1989)
Opt. Lett.
, vol.14
, pp. 955
-
-
Sheik-Bahae, M.1
Said, A.A.2
Van Stryland, E.W.3
-
19
-
-
0025413944
-
-
Sheik-Bahae, M.; Said, A. A.; Wei, T. H.; Hagan, D. J.; Van Stryland, E. W. IEEE J. Quant. Electron 1990, 26, 760.
-
(1990)
IEEE J. Quant. Electron
, vol.26
, pp. 760
-
-
Sheik-Bahae, M.1
Said, A.A.2
Wei, T.H.3
Hagan, D.J.4
Van Stryland, E.W.5
-
21
-
-
85022609283
-
-
Meuller, A.; Bogge, H.; Koniger-Ahlborn, E.; Hellmann, W. Inorg. Chem. 1979, 18, 2031.
-
(1979)
Inorg. Chem.
, vol.18
, pp. 2031
-
-
Meuller, A.1
Bogge, H.2
Koniger-Ahlborn, E.3
Hellmann, W.4
-
22
-
-
85022650150
-
-
Meuller, A.; Bogge, H.; Koniger-Ahlborn, E. J. Chem. Soc, Chem. Commun. 1978, 793.
-
(1978)
J. Chem. Soc, Chem. Commun.
, pp. 793
-
-
Meuller, A.1
Bogge, H.2
Koniger-Ahlborn, E.3
-
23
-
-
33845559428
-
-
Stalick, J. K.; Siedle, A.; Mighell, A. D.; Hubbard, C. J. Am. Chem. Soc. 1979, 101, 2903.
-
(1979)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.101
, pp. 2903
-
-
Stalick, J.K.1
Siedle, A.2
Mighell, A.D.3
Hubbard, C.4
-
25
-
-
0029277588
-
-
Shi, S.; Hou, H. W.; Xin, X. Q. J. Phys. Chem. 1995, 99, 4050.
-
(1995)
J. Phys. Chem.
, vol.99
, pp. 4050
-
-
Shi, S.1
Hou, H.W.2
Xin, X.Q.3
-
26
-
-
2842573590
-
-
Ji, W.; Du, H. J.; Shi, S. J. Opt. Soc. Am. 1995, 12, 876.
-
(1995)
J. Opt. Soc. Am.
, vol.12
, pp. 876
-
-
Ji, W.1
Du, H.J.2
Shi, S.3
-
28
-
-
85022722291
-
-
in press
-
Ji, W.; Shi, S.; Du, H. J.; Ge, P.; Xin, X. Q. J. Phys. Chem., in press.
-
J. Phys. Chem.
-
-
Ji, W.1
Shi, S.2
Du, H.J.3
Ge, P.4
Xin, X.Q.5
-
31
-
-
0039915572
-
-
Chen, Z. R.; Hou, H. W.; Xin, X. Q.; Yu, K. B.; Shi, S. J. Phys. Chem. 1995, 99, 8717.
-
(1995)
J. Phys. Chem.
, vol.99
, pp. 8717
-
-
Chen, Z.R.1
Hou, H.W.2
Xin, X.Q.3
Yu, K.B.4
Shi, S.5
-
32
-
-
0028423057
-
-
Lawrence, B. L.; Cha, M.; Torruellas, W. E.; Stegeman, G. I.; Etenmad, S.; Baker, G.; Kajzar, F. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 2773.
-
(1994)
Appl. Phys. Lett.
, vol.64
, pp. 2773
-
-
Lawrence, B.L.1
Cha, M.2
Torruellas, W.E.3
Stegeman, G.I.4
Etenmad, S.5
Baker, G.6
Kajzar, F.7
-
33
-
-
0026940630
-
-
Rochford, K. B.; Zanoni, R.; Stegeman, G. I.; Krug, W.; Miao. E.; Beranek, M. W. IEEE J. Quant. Electron 1992, 28, 2044.
-
(1992)
IEEE J. Quant. Electron
, vol.28
, pp. 2044
-
-
Rochford, K.B.1
Zanoni, R.2
Stegeman, G.I.3
Krug, W.4
Miao, E.5
Beranek, M.W.6
|