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Volumn 68, Issue 9, 1996, Pages 1262-1264

Ultrathin oxides using N2O on strained Si1-xGex layers

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EID: 0000652978     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.115946     Document Type: Article
Times cited : (17)

References (25)
  • 23
    • 21544438993 scopus 로고    scopus 로고
    • D. K. Nayak, Ph.D Dissertation, Univ. of California, Los Angeles (1992), p. 53.
    • D. K. Nayak, Ph.D Dissertation, Univ. of California, Los Angeles (1992), p. 53.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.