Application of the scanning force microscope in structuring and in temperature-dependent analysis of Au nanostructures

Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

Volumn 15, Issue 4, 1997, Pages 1359-1363

  Gobel H ^a   Jacobs, L ^a   Von Blanckenhagen, P ^a  

^a KARLSRUHE INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Germany)

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EID: 0000588910     PISSN: 10711023     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.589538     Document Type: Article

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