Microscopic laser desorption/postionization fourier transform mass spectrometry

Analytical Chemistry

Volumn 68, Issue 5, 1996, Pages 713-719

  Beton, Jane M ^a,b   Hemminger, John C ^b   Lykke, Keith R ^a  

^a ARGONNE NATIONAL LABORATORY   (United States)

^b UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000580298     PISSN: 00032700     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ac9510999     Document Type: Article

References (29)

1. Van Vaeck, L.; Struyf, H.; Van Roy, W.; Adams, F. Mass Spectrom. Rev. 1994, 13, 189.
2. Pelletier, M ; Krier, G.; Muller, J. F., Weil, D.; Johnston, M. Rapid Commun. Mass Spectrom. 1988, 2, 146.
3. Brenna, J. T.; Creasy, W. R.; McBrain, W.; Soria, C. Rev. Sci. Instrum. 1988, 59, 873.
4. Zenobi, R. Int. J. Mass Spectrom. Ion Processes 1995, 145, 51.
5. Struyf, H.; Van Roy, W.; Van Vaeck, L.; Van Grieken, R.; Gijbels, R.; Caravatti, P. Anal. Chim. Acta 1993, 283, 139.
6. Van Vaeck, L.; Van Roy, W.; Struyf, H.; Adams, F.; Caravatti, P. Rapid Commun. Mass Spectrom. 1993, 145, 51.
7. Lykke, K. R.; Parker, D. H.; Wurz, P., Hunt, J. E.; Pellin, M. J.; Gruen, D. M.; Hemminger, J. C.; Lattimer, R. P. Anal. Chem. 1992, 64, 2797.
8. Sherman, M. G.; Kingsley, J. R.; Hemminger, J. C.; McIver, R. T. Anal. Chim. Acta 1985, 178, 79.
9. Zimmerman, J. A.; Watson, C. A.; Eyler, J. R. Anal. Chem 1991, 63, 361.
10. Lykke, K. R.; Wurz, P.; Parker, D. H.; Pellin, M. J. Appl. Opt. 1993, 32, 857.
11. Speir, J. P.; Amster, I. J. J. Am. Soc. Mass Spectrom. 1995, 6, 1069.
12. Wurz, P.; Lykke, K. R.; Pellin, M. J.; Gruen, D. M. J. Appl. Phys. 1991, 70, 6647.
13. Chen, F. F. Introduction to Plasma Physics; Plenum Press. New York, 1974.
14. Odom, R. W., Schueler, B. Laser Microprobe Mass Spectrometry: Ion and Neutral Analysis. In Lasers and Mass Spectrometry, Lubman, D., Ed.; Oxford University Press: New York, 1990; p 103.
15. deVries, M. S.; Elloway, D. J.; Wendt, H. R.; Hunziker, H. E. Rev. Sci. Instrum. 1992, 63, 3321.
16. Kovatenko, L. J.; Maechling, C. R.; Clemett, S. J.; Philippoz, J.-M.; Zare, R. N.; Alexander, C. M. O. Anal. Chem. 1992, 64, 682.
17. Ma, Z.; Thompson, R. N.; Lykke, K. R.; Pellin, M. J.; Davis, A. M. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 3169.
18. Erdos, P. Opt. Soc. Am. 1959, 49, 877.
19. Driscoll, W. G.; Vaughan, W. Handbook of Optics; McGraw-Hill: New York, 1978; Chapter 6.
20. Born, M.; Wolf, E. Principles of Optics; Electromagnetic Theory of Propagation, Interference, and Diffraction of Light, Pergamon Press: Oxford, 1975.
21. Sharp, T. E.; Eyler, J. R.; Li, E. Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys. 1972, 9, 421.
22. Hunter, R. L.; Sherman, M. G.; McIver, R. T. Int. J. Mass Spectrom. Ion Processes 1983, 50, 259.
23. DeBievre, P.; Taylor, P. D. P. Int. J. Mass Spectrom. Ion Processes 1993, 123, 149.
24. Behm, J. M., Lykke, K. R.; Pellin, M. J.; Hemminger, J. C. Langmuir, submitted.
25. CRC Handbook of Chemistry and Physics; CRC Press, Inc.: Boca Raton, FL, 1987.
26. Lichtenberger, D. L.; Jatcko, M. E.; Nebesny, K. W.; Ray, C. D.; Huffman, D. R.; Lamb, L. D. Chem. Phys. Lett 1992, 198, 454.
27. Beck, R. D.; Weis, P.; Rockenbergher, J.; Kappes, M. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 3990.
28. Wurz, P.; Lykke, K. R. J. Phys. Chem. 1992, 96, 10129.
29. Meyer, K.; Hagenhoff, B.; Deimel, M.; Benninghoven, A.; Bauch, H -J. Org. Mass Spectrom 1992, 27, 1148.