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Volumn 69, Issue 13, 1997, Pages 2438-2443

High-Density, Covalent Attachment of DNA to Silicon Wafers for Analysis by MALDI-TOF Mass Spectrometry

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EID: 0000561129     PISSN: 00032700     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ac961007v     Document Type: Article
Times cited : (99)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.