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Volumn 28, Issue 6, 1983, Pages 3266-3271

Raman studies of vitreous SiO2 versus fictive temperature

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EID: 0000552701     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.28.3266     Document Type: Article
Times cited : (361)

References (18)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.