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Volumn 307, Issue 3-4, 1999, Pages 205-210

Ultrafast charge migration by electron correlation

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EID: 0000550586     PISSN: 00092614     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0009-2614(99)00508-4     Document Type: Article
Times cited : (347)

References (20)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.