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Volumn 59, Issue 12, 1991, Pages 1412-1414

Study of the composition of thin dielectrics grown on Si in a pure N 2O ambient

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EID: 0000526980     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.105323     Document Type: Article
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References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.