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Volumn 54, Issue 23, 1996, Pages 16456-16459

Exponential scaling of sputtered negative-ion yields with transient work-function changes on-bombarded surfaces

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EID: 0000492289     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.54.16456     Document Type: Article
Times cited : (66)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.