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Volumn 49, Issue 4, 1994, Pages

Critical dynamics of contact line depinning

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EID: 0000492165     PISSN: 1063651X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevE.49.R2532     Document Type: Article
Times cited : (179)

References (16)
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    • 84927482748 scopus 로고    scopus 로고
    • In their notation, β=1/B.
  • 15
    • 84927467070 scopus 로고    scopus 로고
    • See Sec. III of, Ref. 3, for a detailed discussion on random field vs random bond disorder.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.