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Volumn 352, Issue 3, 1995, Pages 618-621

TSC data-analysis on heavily irradiated silicon detectors

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EID: 0000476097     PISSN: 01689002     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/0168-9002(95)90016-0     Document Type: Article
Times cited : (18)

References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.