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Volumn 60, Issue 22, 1999, Pages R15051-R15054

C-axis penetration depth and interlayer conductivity in the thallium-based cuprate superconductors

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EID: 0000466253     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.60.R15051     Document Type: Article
Times cited : (18)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.