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Volumn 70, Issue 1 PART II, 1999, Pages 220-225

Very high frequency and microwave interferometric phase and amplitude noise measurements

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EID: 0000462964     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1149351     Document Type: Review
Times cited : (32)

References (7)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.