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Volumn 82, Issue 1, 1997, Pages 297-302

Hot-electron-induced quasibreakdown of thin gate oxides

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EID: 0000451121     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.365812     Document Type: Article
Times cited : (34)

References (17)
  • 17
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    • private communication
    • H. Mizuno (private communication).
    • Mizuno, H.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.