메뉴 건너뛰기




Volumn 72, Issue 4, 1998, Pages 462-464

Excess silicon at the Si3N4/SiO2 interface

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 0000443705     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.120786     Document Type: Article
Times cited : (29)

References (19)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.