Improved fabrication approach for carbon nanotube probe devices

Applied Physics Letters

Volumn 77, Issue 21, 2000, Pages 3453-3455

  Stevens, R ^a   Nguyen, C ^a   Cassell, A ^a   Delzeit, L ^a   Meyyappan, M ^a   Han, Jie ^a  

^a NASA AMES RESEARCH CENTER   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000440237     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1328046     Document Type: Article

References (13)

1. H. Dai, J. H. Hafner, A. G. Rinzler, D. T. Colbert, and R. E. Smalley, Nature (London) 384, 147 (1996).
2. S. S. Wong, E. Joselevich, A. T. Wolley, C. L. Cheung, and C. M. Lieber, Nature (London) 394, 52 (1998).
3. S. S. Wong, A. T. Wolley, T. W. Odom, J.-L. Huang, P. Kim, D. V. Vezenov, and C. M. Lieber, Appl. Phys. Lett. 73, 3465 (1998).
4. H. Dai, N. Franklin, and J. Han, Appl. Phys. Lett. 73, 1508 (1998).
5. J. Li, A. Cassell, and H. Dai, Surf. Interface Anal. 28, 8 (1999).
6. J. H. Hafner, C. L. Cheung, and C. M. Lieber, Nature (London) 398, 761 (1999).
7. J. H. Hafner, C. L. Cheung, and C. M. Lieber, J. Am. Chem. Soc. 121, 9750 (1999).
8. C. L. Cheung, J. H. Hafner, and C. M. Lieber, Proc. Natl Acad. Sci. USA 97, 3809 (2000).
9. C. L. Cheung, J. H. Hafner, T. W. Odom, K. Kim, and C. M. Lieber, Appl. Phys. Lett. 76, 3136 (2000).
10. H. Nishijima, S. Kamo, S. Akita, Y. Nakayama, K. I. Hohmura, S. H. Yoshimura, and K. Takeyasu, Appl. Phys. Lett. 74, 4061 (1999).
11. Y. Nakayama, H. Nishijima, S. Akita, K. I. Hohmura, S. H. Yoshimura, and K. Yakeyasu, J. Vac. Sci. Technol. B 18, 661 (2000).
12. R. M. D. Stevens, N. A. Frederick, B. L. Smith, D. E. Morse, G. D. Stucky, and P. K. Hansma, Nanotechnology 11, 1 (2000).
13. A. Cassell, N. R. Franklin, T. W. Tombler, E. M. Chan, J. Han, and H. Dai, J. Am. Chem. Soc. 121, 7975 (1999).