Quantitative evaluation of SERS-active Ag film nanostructure by atomic force microscopy

Analytical Chemistry

Volumn 68, Issue 3, 1996, Pages 473-480

  Roark, Shane E ^a   Semin, David J ^a,b   Rowlen, Kathy L ^a  

^a UNIVERSITY OF COLORADO   (United States)

^b LOS ALAMOS NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000428114     PISSN: 00032700     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ac950909d     Document Type: Article

References (35)

1. Cohen, R. W., Cody, G. D.; Coutts, M. D.; Abeles, B. Phys. Rev. B 1973, 8, 3689-3701.
2. Davis, C. A.; McKenzie, D. R.; McPhedran, R. C. Opt. Commun. 1991, 85, 70-82.
3. Buchholz, S.; Fuchs, H.; Rabe, J. P. J. Vac. Soc. Am. B 1991, 9, 857-861.
4. Dawson, P.; Alexander, K. B.; Thompson, J. R.; Haas, J. W., III; Ferrell, T L. Phys. Rev B 1991, 44, 6372-6381.
5. Hurt, H. H.; Bennett, J. M. Appl. Opt. 1985, 24, 2712-2720.
6. Gajdardziska-Josifovska, M.; McPhedran, R. C.; Cockayne, D. J. H.; McKenzie, D. R.; Collins, R. E. Appl Opt. 1989, 28, 2736-2743.
7. Schlegel, V. L.; Cotton, T. M. Anal. Chem 1991, 63, 241-247.
8. Sennett, R. S.; Scott, G. D. J. Opt. Soc. Am. 1950, 40, 203-211.
9. Sharma, S. K.; Spitz, J. Thin Solid Films 1980, 65, 339-350.
10. Varnier, F.; Mayani, N.; Rasigni, G.; Rasigni, M.; Llebaria, A. J. Vac. Soc Am. A 1987, 5, 1806-1808.
11. Yamamoto, M.; Namioka, T. Appl. Opt. 1992, 31, 1612-1621.
12. Shawki, G. S. A.; El-Sherbiny, M. G.; Salem, F B. Thin Solid Films 1981, 75, 29-36.
13. Kovacs, G. J.; Loutfy, R. O.; Vincett, P. S.; Jennings, C.; Aroca, R. Langmuir 1986, 2, 689-694.
14. Roark, S. E.; Rowlen, K. L. Chem. Phys. Lett. 1993, 212, 50-56.
15. Roark, S. E.; Rowlen, K. L. Anal. Chem. 1994, 66, 261-270.
16. Van Duyne, R. P.; Hulteen, J. C.; Treichel, D. A. J. Chem. Phys. 1993, 99, 2101-2115.
17. Semin, D. J ; Rowlen, K. L Anal. Chem. 1994, 66, 4324-4331.
18. Schimmel, T.; Bingler, H.; Franzke, D.; Wokaun, A. Adv. Mater 1994, 6, 303-307.
19. Moller, R.; Baur, C.; Graff, U.; Kurz, P.; Leitner, A.; Pedarnig, J. D.; Aussenegg. F. R. J. Phys. D 1990, 23, 1267-1270.
20. Baski, A. A.; Fuchs, H. Surf. Sci. 1994, 313, 275-288.
21. Gimzewski, J. K.; Humbert, A.; Bednorz, J. G.; Reihl, B Phys. Rev. Lett. 1985, 55, 951-954.
22. Roark, S. E.; Semin, D. J.; Lo, A.; Skodje, R. T.; Rowlen, K. L. Anal. Chim. Acta 1995, 307, 341-353
23. Roark, S. E.; Rowlen, K. L. Appl Spectrosc 1992, 46, 1759-1761
24. Keller, D. Surf. Sci. 1991, 253, 353-364.
25. Burnham, N. A.; Colton, R. J.; Pollock, H. M. J. Vac. Sci. Technol. A 1991, 9, 2548-2556
26. Markiewicz, P., Goh, M. C Langmuir 1994, 10, 5-7.
27. Eppell, S. J.; Zypman, F. R.; Marchant, R. E. Langmuir 1993, 9, 2281-2288.
28. Vesenka, J.; Manne, S.; Giberson, R.; Marsh, T.; Henderson, E. Biophys. J. 1993, 65, 992-997.
29. Artifacts in SPM, TopoMetrix, Santa Clara, CA, 1993.
30. Jahanmir, J.; Haggar, B. G.; Hayes, J B. Scanning Microsc. 1992, 6, 625-660.
31. Butt, H. J.; Siedle, P.; Seifert, K.; Fendler, K.; Seeger, T.; Bamberg, E.; Weisenhom, A. L.; Goldie, K.; Engel, A. J. Microsc. 1993, 169, 75-84.
32. Alexander, S ; Hellemans, L.; Marti, O.; Schneir, J.; Elings, V.; Hansma, P. K.; Longmire, M.; Gurley, J. J. Appl Phys. 1989, 65, 164-167.
33. Ohnesorge, F.; Binnig, G. Science 1993, 260, 1451-1456.
34. Thundat, T.; Zheng, X.-Y.; Chen, G. Y.; Warmack, R. J. Surf. Sci. Lett 1993, 294, L939-L943.
35. Hu, J.; Xiao, X. D.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. Science 1995, 268, 267-269.